テスト設計
電気的機能検査をお手伝いし、御社の品質作り込みをサポートいたします。
電気的機能検査として、インサーキットテスタによる検査と、カスタム開発のファンクションテスタによる検査の組合せを、回路仕様と生産量により、ご提案いたします。
テスタ設計
回路図とご希望の検査仕様から、ファンクションテスタを開発いたします。
被試験基板に搭載するテストプログラムから、ファンクションテスタ側の制御・検査プログラムの作成にもご対応いたします。
オシロスコープによる波形確認や調整作業等もご対応致しております。
※お客様からのご支給にも対応致しております。
JTAG（バウンダリスキャン）により、高密度面実装基板の検査に対応いたします。
アンドールシステムサポート様（JTAG Technologies社正規日本総代理店）との連携により、 JTAGによるテストプログラム開発とバウンダリスキャンテスターのご利用をご提案いたします。
バウンダリスキャンテス
バウンダリスキャンデバイス (BSデバイス)は、TAP(Test Access Port)と呼ばれるTDI、TDO、TMS、TCKおよびTRST(オプション)の５本の端子から、デバイスに組み込まれたテスト回路にアクセスし、入出力ピンの状態を検査します。
BSデバイスを搭載した実装基板は、TAP端子をディジーチェン接続することで、広範囲に渡り検査工程の簡易化と検査性の向上をもたらします。
バウンダリスキャンを導入すると、テストプログラム開発の多くはテストパターン自動生成ツールが行うため、試作評価段階（設計終了後）から、量産生産工程と同等の実装基板検査を実施することができます。
詳しくは、アンドールシステムサポート様からの情報をご覧ください。
以下のURLをクリックしてください。
http://www.andor.jp/jtag/jtagframe.htm
